RoHS檢測儀XRF-熒光光譜儀，又叫X熒光光譜儀（簡稱XRF）是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損樣品、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優(yōu)勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)廣泛應用。

       RoHS檢測儀XRF-熒光光譜儀，專業(yè)用于RoHS環(huán)保有害元素的快速檢測，如：

1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測： 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻Cr、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚；

2、無鹵指令，鹵素檢測：氯Cl、溴Br；

國際電工委員會推薦的檢測RoHS有害元素*檢測儀器，且可以應對多種環(huán)保指令，如：

1、應對歐盟RoHS2.0指令—2011/65/EU

2、應對無鹵指令IEC61249-2-21

3、應對REACH指令

4、應對玩具En71指令

5、應對美國CPSIA消費品安全改進法

6、應對China-RoHS國推自愿性認證

7、符合IEC62321標準

8、符合GB/T26125-2011

序號

RoHS檢測儀XRF-W7

技術參數(shù)

1

測試范圍

1、從硫S-鈾U之間的元素

2、RoHS限定有害元素檢測：Pb/Hg/Cd/Cr/Br

3、無鹵指令鹵素檢測：Cl/Br

4、8大重金屬檢測：鎘Cb、鉛Pb、汞Hg、鉻Cr、銻Sb、砷As、鋇Ba、硒Se；

2

可測樣品的種類

固體、液體、粉末（任何材質的樣品）

3

檢出限

≤2ppm

4

精度

0.05%

5

測試時間

30-300S（可以任意調節(jié)）

6

攝像定位系統(tǒng)

800萬真像素高清定位系統(tǒng)

7

X射線光管使用壽命

大于20000小時

8

探測器

美國Amptek公司*電制冷Si-Pin 探測器

分辨率145ev±5

9

高壓電源

0-50kev，0-2mA ，50W

10

高壓保護措施

過壓自保護，自恢復

11

準直濾光系統(tǒng)

X射線光斑大小直徑：φ1mm、φ3mm、φ4mm

濾光系統(tǒng)：9種復合材料濾光片

12

工作環(huán)境溫/濕度

溫度 :15-30℃   ；濕度：≤75% （不結露）

13

輸入電源

AC 220V±15%，50Hz

14

儀器尺寸

650mm*450mm*350mm

15

測試樣品腔尺寸

100mm*200mm*80mm

16

輻射防護標準

遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準